激光检测原子力显微镜/AFM/AFM探针工作示意图 What is FIB?
FIB(聚焦离子束,Focused Ion beam)是将液态金属(Ga)离子源产生的离子束经过离子枪加速,聚焦后照射于样品表面产生二次电子信号取得电子像.此功能与SEM(扫描电子显微镜)相似,或用强电流离子束对表面原子进行剥离,以完成微、纳米级表面形貌加工.通常是以物理溅射的方式搭配化学气体反应,有选择性的剥除金属,氧化硅层或沉积金属层。 What is HRTEM?
HRTEM(High Resolution Transmission Electron Microscopy )就是高分辨率的透射电镜,它只是分辨率比较高,所以一般透射电镜能做的工作它也能做,但高分辨电镜物镜极靴间距比较小,所以双倾台的转角相对于分析型的电镜要小一些。
HRTEM是透射电镜的一种,将晶面间距通过明暗条纹形象的表示出来。通过测定明暗条纹的间距,然后与晶体的标准晶面间距d对比,确定属于哪个晶面。这样很方便的标定出晶面取向,或者材料的生长方向。
用HRTEM研究纳米颗粒可以通过结合高分辨像和能谱分析结果来得到颗粒的结构和成分信息。 注意事项: 样品要求必须平整光滑,否则可能损坏探针,与红外联用时需保证样品不含水。
扫描电子显微镜(scanning electron microscope),简称SEM,是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具,主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态,即用极狭窄的电子束去扫描样品,通过电子束与样品的相互作用产生各种效应,其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像,这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的,即使用逐点成像的方法获得放大像。